半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

903141000 · Estrutura do Código HS

90 31 41 00 0
Seção 2 dígitos
光学機器、写真用機器、映画用機器、測定機器、検査機器、精密機器及び医療用機器並びにこれらの部分品及び附属品
第18部 - 光学機器、写真用機器、映画用機器、測定機器、検査機器、精密機器、医療用機器、時計及び楽器並びにこれらの部分品及び附属品
Item 4 dígitos
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機
Subposição 6 dígitos
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
Subdivisão Estatística 8 dígitos
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

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Informações Básicas Comparar
HS Code
903141000
Status do Código
Normal
Data de Atualização
2026-01-08
Description
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
Unit
Rate of Duty (Alíquota)
Geral (Básica) 無税
Temporária (Provisória)
WTO (無税)
GSP (Preferencial)
LDC (Preferencial Especial)
RCEP China 無税
CPTPP 無税
Para mais alíquotas preferenciais de acordos EPA (ex.: ASEAN, Singapura, Austrália), consulte a documentação oficial